壓縮空氣露點儀
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TecScan頂空分析儀好評連連
奧地利 TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀是奧地利兩位科學家發(fā)明的非接觸式頂空分析儀，無損殘氧儀，專門應用在氣調包裝和制藥殘氧檢測行業(yè)，TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀是MAP食品包裝廠和如大輸液，安剖瓶，抗生素，麻醉劑
性能 | 氣體 | 液體 |
測試范圍 | 0.05 – 25% Vol.% | 0 – 10 (20)mg/L |
準確度: | ± 0.02% oder < ±2% from value | ± 0.05mg/l oder < ±2% from value |
分辨率: | 0.02% | <0.02mg/l |
響應時間: | < 1 s | Abhängig von der Schutzklasse |
校準: | 20° / 25° / 37° |
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聯(lián)系人：劉女士
地址：上海市虹口區(qū)廣紀路173號
郵箱：shawchinasadp@163.com
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